Студопедия

КАТЕГОРИИ:

АстрономияБиологияГеографияДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника


Внутренний фотоэлектрический эффект в полупроводниках




 

Фотопроводимость и фото-ЭДС. Фотоприемни­ки — это полупроводниковые приборы, которые управля­ются оптическим излучением. Под действием оптического излучения происходит изменение электрофизических пара­метров фотоприемника, обусловленное образованием до­полнительных свободных носителей заряда в полупровод­нике. Процесс образования дополнительных носителей за­ряда (фотоносителей) внутри полупроводника под действием оптического излучения называется внутренним фото­эффектом или фотоэлектрическим эффектом.

В фотоприемниках используются две формы внутрен­него фотоэффекта:

1. Фотогальванический эффект.

2. Эффект фотопроводимости.

Фотогальванический эффект возникает в полупроводни­ках с внутренним потенциальным барьером (с р-п пере­ходом, с переходом металл — полупроводник, с гетеропе­реходом): внутреннее электрическое поле перехода разделяет возникшие под воздействием оптического излучения фотоносители. Пространственно разделенные фотоносите­ли—-разных знаков — дырки и электроны — создают фото ЭДС.

Эффект фотопроводимости (в отличие от фотогальва- ппческого) состоит только в создании фотоносителей; результатом изменения концентрации носителей в полупроводнике является увеличение проводимости полупровод­ника.

 

Рис. 2.1, Эффект собствен­ной (переход 1) и примес­ной (переходы 2, 3) фото­проводимости в полупроводниках

 

Оба эффекта используются в практике конструирования фотоприемников: фотогальванический эффект — в фотодиодах, фототранзисторах, фототиристорах и других фоториемниках с р-п переходами, эффект фотопроводимо­сти — в фоторезисторах.

 

 

Рис. 2.2. Переходы электрона из ва­лентной зоны в зону проводимости при эффекте собственной фотопро­водимости:

а— прямой переход;б— непрямой пере­ход

 

Рассмотрим процесс образования фотоносителей в по­лупроводнике, т. е. образование дополнительных дырок н электронов при поглощении полупроводником фотонов- оптического излучения. Энергия фотонов може-т быть пе­редана электронам валентной зоны с переводом этих элек­тронов в зону проводимости, т. е. энергия фотонов идет на ионизацию атомов полупроводника. Этот процесс называется эффектом собственной фотопроводимости. На рис. 2.1 образованию собственных фотоносителей соответ­ствует переход 1 (валентная зона — зона проводимости)..

Возможно примесное поглощение, при котором энергия фотонов излучения идет на ионизацию или возбуждение примесных атомов (переходы 2 и 5 на рис. 2.1). Концен­трация примесных атомов мала, и они в основном ионизованы уже при относительно низких температурах. В ре­зультате собственная фотопроводимость существенно выше примесной и основная доля фотоносителей — это собствен­ные фотоносители.

При собственном поглощении фотонов переход элек­тронов из валентной зоны в зону проводимости может про­исходить без изменения импульса электрона, т. е. возмож­ны прямые переходы (рис. 2.2,а, см. также § 1.1). Могут происходить также переброс электронов из валентной зоны в зону проводимости и с изменением импульса — непря­мые переходы (рис. 2.2,6). При непрямых переходах в процессе поглощения кроме фотона и электрона должна участвовать еще третья квазичастица, которая обеспечит закон сохранения импульса. Такой третьей квазичастицей обычно является квант тепловой энергии кристаллической решетки полупроводника.

Для того чтобы фотон излучения создавал фотоноси­тели, необходимо выполнение очевидных энергетических соотношений (рис. 2.1):

Еф1 = hν1 ≥ Ec - Eυ (2.1а)

 

Еф2 = hν2 ≥ Ec - Ei (2.16)

где Еф1, Еф2— энергия фотона; Ec, Eυ,Ei — энергетиче­ские уровни дна зоны проводимости, потолка валентной зоны и примеси.

Значит, собственный фотоэффект в полупроводнике воз­можен только при воздействии на полупроводник излуче­ния с длиной волны, меньшей некоторого значения:

(2.2)

где Eэ — ширина запрещенной зоны, эВ; λгр — длинновол­новая граница спектральной чувствительности материала, МКМ.

У фотоприемников на основе кремния, германия, арсенида галлия, сернистого и селенистого кадмия λгр состав­ляет 1,1; 1,8; 0,9; 0,7 и 0,8 мкм соответственно. Итак, при длине волны излучения λ > λгр собственный фотоэффект в лупроводнике невозможен; при λ < λгр собственный фото­эффект может иметь место.

Параметры фотоэффекта. Эффективность проте­кания фотоэлектрических процессов характеризуется кван­товым выходом ηф, который равен отношению числа гене­рированных пар электрон — дырка к числу поглощенных фотонов излучения. В рабочем спектральном диапазоне фотоприемников квантовый выход обычно равен единице, т. е. поглощению каждого фотона излучения соответствует генерация пары фотоносителей (электрон — дырка).

Поглощение излучения характеризуют в полупровод­никах глубиной поглощения χо или обратной величиной

1/ χо — показателем поглощения. Показатель поглощения равен относительному изменению потока излучения в слое полупроводника (рис. 2.3):

1/ χо = - 1/Ф(х)× dФ/dх (2.3)

 

где Ф(х) —поток излучения на расстоянии х от поверхности полупроводника.

 

 

Рис. 2.3. Поглощение оптического излучения в полупроводнике

 

Разделив переменные в выражении (2.3), легко получить закон изменения излучения в полупроводнике при поглощении (закон Бугера):

Ф(х)=Фсех/χ, (2.4)

 

 

 

Рис. 2.4. Спектральные харак­теристики глубины поглощения материалов фотоприемников

где Фо— поток излучения на поверхности полупроводника;

χо глубина поглощения.

Таким образом, глубину поглащения χо можно опреде­лить как толщину слоя полупроводника, после прохожде­ния которого поток излучения уменьшается в е=2,718 ...раз. Зависимость глубины поглощения от энергии фотонов излучения или длины волны излучения называется спектром поглощения полупроводника или спектральной характеристикой поглощения (рис.2.4). Следует подчеркнуть, что глубина поглощения χ0 большинства материалов, при­меняемых в фотоприемниках, очень резко изменяется вбли­зи длинноволновой границы λгр. Исключение составляет кремний, у которого изменение от прозрачного состояния (χ0 ->∞, излучение проходит без поглощения) до непро­зрачного ( χ0 ->0, излучение вообще не проходит, полно­стью поглощаясь у поверхности) происходит при измене­нии λ примерно в 2 раза.

 

2. Параметры и характеристики фотоприёмников

 

Все типы фотоприемников, независимо от физической природы и конструкции этих приборов, описываются опре­деленной совокупностью основных параметров и характе­ристик.

Чувствительность. Важнейшим параметром фо­топриемника является чувствительность. Этот параметр можно до определенной степени считать аналогичным ко­эффициенту усиления в приборах с электронной проводи­мостью. В общем случае чувствительность фотоприемника отражает изменение электрического состояния на выходе фотоприемника при подаче на его вход единичного опти­ческого сигнала. Количественно чувствительность опреде­ляется отношением изменения измеряемой электрической величины, вызванного падающим на фотоприемник излу­чением, к количественной характеристике этого излучения.

Оптическое излучение может характеризоваться энер­гетическими и световыми параметрами (см. табл. 1.1). В соответствии с характеризующим параметром различают:

чувствительность фотоприемника к потоку излучения SФe;

чувствительность фотоприемника к световому потоку SФυe;

чувствительность к облученности SEe;

чувствительность к освещенности S...

В зависимости от измеряемого электрического парамет­ра на выходе фотоприемника различают токовую и воль­товую чувствительность фотоприемника. Если измеряемой величиной является фототок, то имеем токовую чувстви­тельность (SI). Чувствительность фотоприемиика, у кото­рого измеряемой величиной является напряжение фотосиг­нала, называется вольтовой чувствительностью (Sυ).

Примеры определения чувствительности фотоприемни­ка приведены в выражениях

 

SIфυ= Iфυ ; SIЕυ = Iф /Eυ ;

Sυфе = Uфе; SυЕе = Uф /Eе , (2.5)

 

где SIфυ — токовая чувствительность к световому потоку:

SIЕυ — токовая чувствительность к освещенности;

Sυфе — вольтовая чувствительность к потоку излучения

SυЕе — вольтовая чувствительность к облученности.

Вообще говоря, чувствительность фотоприемника не есть постоянная величина и зависит, в частности, от зна­чения параметров излучения. Для учета этой зависимости вводят понятия статической и дифференциальной чувстви­тельности фотоприемника. При этом статическая чувстви­тельность определяется отношением постоянных значений измеряемых величин. Выражения (2.5), например, позво­ляют определить значение соответствующей статической чувствительности. Дифференциальная чувствительность равна отношению малых приращений измеряемых величин: например, дифференциальная токовая чувствительность фотоприемника к освещенности

SIЕυ. =ΔIф /ΔЕυ (2.6)

Чувствительность зависит от длины волны падающего излучения. Поэтому различают интегральную и монохро­матическую чувствительность фотоприемпика к немоно­хроматическому излучению заданного спектрального со­става. Монохроматическая чувствительность — это чувст­вительность фотоприемника к монохроматическому излу­чению.

Шумовые и пороговые параметры. Помимо по­лезного сигнала на выходе фотоприемника всегда имеет место хаотический сигнал со случайной амплитудой и спектром — это шум фотоприемника. Источники шума мо­гут быть по отношению к фотоприемнику как внутренни­ми, так и внешними. Шум не позволяет регистрировать сколь угодно малое значение входного излучения, так как оно становится неразличимым на фоне шума. В оптималь­но сконструированном фотоприемнике чувствительность к малым входным сигналам определяется только уровнем собственных шумов прибора. Шумы определяются случай­ными (флюктуационными) процессами и уровень шумов характеризуют вероятностными параметрами: математиче­ским ожиданием (средний уровень шума), среднеквадра- тичным значением или дисперсией. Распределение мощно­сти шума по спектру часто задается спектральной плот­ностью шума — шумом в единичной полосе частот.

В фотоприемниках наряду с обычными для полупро­водников видами шумов (тепловым, дробовым и др.) до­бавляется также радиационный (фотонный) шум, который определяется флюктуациями оптического сигнала, попа- -дающего на фотоприемник, т. е. флюктуациями фотонов, попадающих на фоточувствительный слой.

Обычно шум фотоприемника количественно характери­зуют током шума или напряжением шума. Под током шу­ма /ш понимают среднеквадратичное значение флюктуации тока, протекающего через фотоприемпик в указанной по­лосе частот. Напряжение шума — это среднеквадратичное значение флюктуации напряжения на заданном сопротив­лении нагрузки в цепи фотоприемника.

Связь чувствительности фотоприемника с его шумами количественно определяют пороговым потоком фотоприем­ника Фп, равнььм среднеквадратичному значению дейст­вующего на фотоприемник потока излучения, при котором среднеквадратичное значение фототока равно среднеквад­ратичному значению тока шума. Таким образом, если на фотоприемник действует некоторый поток излучения Ф, то на выходе фотоприемника появляются одновременно сиг­нал шума Iш и полезный сигнал Iф. Если поток излучения равен пороговому потоку Фп, то значения тока шума и фототока сравниваются, т. е. Iш=Iф при Ф=Фп.

Так как шум зависит от полосы частот, в которой шум измеряется, то и значение Фп зависит от частоты. Поэтому чаще всего определяют порог фотоприемника в единичной полосе частот (Фп1) как минимальное среднеквадратичное значение синусоидально-модулированного потока с задан­ным спектром, взятое по отношению к полосе пропускания частот. Уровень шумов фотоприемника зависит от площа­ди фоточувствительного элемента. Для характеристики этой зависимости введен параметр Ф* п1 — удельный поро­говый поток фотоприемника:

Ф*п1 = Фп1/S, (2.7)

где Фп1 — порог в единичной полосе частот; S — площадь фоточувствительного элемента фотоприемника. Таким об­разом, удельный пороговый поток — это пороговый поток фотоприемника в единичной полосе частот, отнесенный к единичному по площади фоточувствительному элементу.

Характеристики фотоприемников. Основными ха­рактеристиками фотоприемников являются: вольт-амперная, спектральная и. энергетическая характеристики.

 

 

 

Рис. 2.5. Энергетическая ха­рактеристика фотоприемника

 

Вольт-амперная характеристика — зависимость напря­жения на выходе фотоприемника от выходного тока (фо­тотока) при заданном потоке излучения. Спектральная ха­рактеристика — зависимость чувствительности фотоприем­ника от длины волны падающего на фотоприемник моно­хроматического излучения. Энергетическая характеристи­ка выражает зависимость фототока от потока излучения, падающего на фотоприемник.

 

 

Рис. 2.6. Спектральная харак­теристика фотоприемника'

 

Энергетическая характеристика описывается обычно степенной функцией вида

 

Iф ~ Фп. (2.8)

 

Показатель степени п характеризует линейность энер­гетической характеристики. При n≈1 фотоприемник ли­неен. Область значений Ф (от Фтin до Фmах), в которой это выполняется (рис. 2.5), определяет динамический диа­пазон ΔФ линейности фотоприемника. Динамический диа­пазон выражается обычно в децибелах

ΔФ = 10 lg(Фmах/Фтin) (2.9)

 

Типичная спектральная характеристика фотоприемника изображена на рис. 2.6. Длинноволновая граница спектра λГр определяет максимальную длину волны падающего на фотоприемник [см. выражение (2.2)] излучения; корот­коволновая граница λκ обусловлена возрастанием погло­щения излучения в пассивных областях структуры при уменьшении длины волны.

Параметры фотоприемника как элемента оптро­на.

В оптронах фотоприемник работает совместно с излучателем, чаще всего с ИК-диодом. Применяемые в оптро­нах излучатели имеют относительно узкий спектр излуче­ния. В связи с этим для фотоприемника в оптроне не важен конкретный вид спектральной характеристики, теря­ют смысл интегральные (по спектру) параметры. Важно, чтобы чувствительность была максимальной на рабочей длине волны применяемого излучателя.

Быстродействие фотоприемника в оптроне характери­зуется временем переключения tпер. Основные классы при­меняемых в настоящее время фотоприемников имеют tпер = 10-5…10-7 с, у быстродействующих современных фо­топриемников

tпер=10-8…;10-10 с; перспективы оптоэлек­троники требуют от фотоприемников продвижения в об­ласть 10-10—10-12 с. Режим высокого быстродействия (ма­лых tпер) не реализуется для высокоомной нагрузки, так как при этом длительность переключения определяется медленным процессом заряда емкости фотоприемника. С другой стороны, при работе с потоками излучения вбли­зи Фп необходимы сопротивления нагрузки порядка 107Ом; тогда длительность заряда емкости фотоприемника С= =5…20 мФ составляет 10-4—10-5 с. В результате получа­ется, что высокое быстродействие при работе фотоприем­ника в «пороговом режиме» (при Ф = Фп и малых Iф) прак­тически недостижимо. В частности, при применении фото­приемников в оптронах пороговые параметры оказывают­ся второстепенными.

 

 


Поделиться:

Дата добавления: 2015-04-04; просмотров: 349; Мы поможем в написании вашей работы!; Нарушение авторских прав





lektsii.com - Лекции.Ком - 2014-2024 год. (0.006 сек.) Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав
Главная страница Случайная страница Контакты