Студопедия

КАТЕГОРИИ:

АстрономияБиологияГеографияДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника


Магнитопорошковый метод диагностики. Принцип, оборудование, технология.




Магнитопорошковая (МП) диагностика основана на обнаружении мест локального искажения магнитных полей над дефектами с помощью ферромагнитных частиц, используемых в виде сухого порошка или в составе суспензий и паст.

N
S

Рис.1. Сущность магнитопорошковой диагностики: 1 - полюса постоянного магнита; 2 – контролируемый объект; 3 – дефект (трещина); 4 – линии магнитного поля.

Магнитный поток, подходя к дефекту (3) на поверхности детали или конструкции (2), вытесняется воздушным зазором дефекта наружу и частично оттесняется вовнутрь, в массу металла. Образуется неоднородность (4) магнитного поля и местные магнитные полюса N и S. Неоднородность магнитного поля выражается в наибольшей плотности магнитных силовых линий непосредственно над дефектом (трещиной) и в уменьшении плотности по мере удаления от трещины.

На поверхность детали наносится магнитный порошок (сухой способ) или суспензия порошка (мокрый способ).

N’
S’
FA
FTP
FP
FM
F3
Fэ
FT

Рис.2. Распределение сил при МП диагностике:

FТ – сила тяжести;

FЗ – сила магнитного поля силовых линий в месте уплотнения;

FА – Архимедова сила (в суспензиях);

Fтр – сила трения;

FЭ и FМ – силы электростатического и магнитного взаимодействия;

FР – результирующая сила.

Под действием результирующей силы FР частицы притягиваются к трещине и накапливаются над ней, образуя скопление порошка. Ширина полоски (валика) значительно больше величины раскрытия трещины. Кроме того, в магнитном поле частицы намагничиваются и собираются в цепочки (5). По формам цепочек и их длине судят о скрытых дефектах, которые не выходят наружу.

Валики образуют на поверхности т.н. индикаторный рисунок.

Расшифровка индикаторного рисунка.

Расшифровка заключается в осмотре и классификации индикаторного рисунка. Осмотр производится при хорошем освещении, согласно ГОСТ 21105-87 освещенность на рабочем месте должна составлять не меньше 1000 лк (люкс).

Общее освещение – лампы накаливания, лампы дневного света.

Местное освещение – лампы с рефлекторами.

Переносные лампы – для крупных деталей и конструкций.

Для осмотра применяются лупы 2-7 кратного увеличения, налобные лупы, стереоскопические микроскопы, оптические приборы на основе волоконной оптики.

При использовании магнито-люминесцентных порошков освещение выполняется ультрафиолетовым светом. При этом, согласно ГОСТ 21105-87 УФ облученность поверхностей должна быть не менее 2000 ВТ/см2.

Общая характеристика дефектоскопов для магнито-порошкового контроля деталей и конструкций (МПД).

Магнито-порошковые дефектоскопы подразделяются:

по мобильности на:

- стационарные;

- передвижные;

- переносные (портативные);

по назначению:

- универсальные;

- специализированные;

по степени автоматизации:

- полностью автоматизированные, включая определение наличия дефектов (расшифровку) и отбраковку деталей;

- частично автоматизированные;

по способу электропитания первичных цепей и контуров:

- от трехфазной сети;

- от однофазной сети;

- от сети постоянного тока 27В;

- МПД на постоянных магнитах.

Магнитные индикаторы (МИ) – это магнитные суспензии, магнитные порошки, полимеризующиеся смеси.

Соответственно способы нанесения – мокрый и сухой.

намагниченные детали поливают магнитной суспензией или наносят на них сухой порошок методом напыления на специальных установках или грушами и пульверизаторами.

Полимеризующиеся смеси наносят с помощью шпателя.

Магнитопорошковый метод применяется для выявления в объектах разных размеров и формы, изготовленных из ферромагнитных материалов поверхностных и подповерхностных дефектов. С помощью магнитопорошкового метода могут быть обнаружены различные трещины, волосовины и закаты, непровары сварных соединений и другие дефекты шириной раскрытия несколько микрометров. Метод может быть использован для контроля объектов с немагнитным покрытием. Существуют различные виды контроля:

«Cухой» и «мокрый» способы нанесения индикатора на контролируемый объект

Флуоресцентный или цветной индикатор для контроля при УФ или дневном свете .

 


Поделиться:

Дата добавления: 2015-04-21; просмотров: 94; Мы поможем в написании вашей работы!; Нарушение авторских прав





lektsii.com - Лекции.Ком - 2014-2024 год. (0.008 сек.) Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав
Главная страница Случайная страница Контакты