Студопедия

КАТЕГОРИИ:

АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника



и структур




Читайте также:
  1. A) прикладная программа, предназначенная для обработки структурированных в виде таблицы данных
  2. A) прикладная программа, предназначенная для обработки структурированных в виде таблицы данных
  3. A) сочетание жилищ, городской инфраструктуры и зеленых насаждений
  4. I.СТРУКТУРА ЛИЧНОСТИ. ВЛИЯНИЕ ОСОБЕННОСТЕЙ ВОЕННОЙ СЛУЖБЫ НА ЛИЧНОСТЬ.
  5. II. Структура Системы сертификации ГОСТ Р и функции ее участников
  6. III. Линейно-функциональная структура.
  7. III. Примерная структура фронтального занятия.
  8. IV. СТРУКТУРА ДИПЛОМНОГО СОЧИНЕНИЯ
  9. PR в государственных структурах и ведомствах. PR в финансовой сфере. PR в коммерческих организациях социальной сферы (культуры, спорта, образования, здравоохранения)
  10. V2: Структура философии

 

Широкое применение для определения рельефа полупроводниковых пластин и структур находят микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-9, Интерфако АЕ и др. Они используются для контроля класса чистоты обработки поверхности полупроводниковых пластин, глубины рисок и ступеней травления (мезаструктур), глубины и ширины разделительных канавок кремниевых структур с диэлектрической изоляцией, рельефа травления диэлектрических слоев (по характеру изгиба полос на клине травления), показателя преломления диэлектрических пленок (по измерению числа полос на ступеньке травления диэлектрика до и после нанесения металлизации), толщины и рельефа слоев поликремния и для других применений.

Для непрозрачной ступеньки глубина рельефа определяется соотношением , а для ступеньки, образованной прозрачным диэлектриком, , где К1 и К2 — соответственно число полос (может быть дробным), характеризующих изгиб полос с зеленым светофильтром (λ = 540 нм) или в белом свете. Минимальная высота ступеньки рельефа (разрешающая способность) в интерферометрах типа МИИ-4 составляет 25...30 нм.

Более широкие возможности заложены в интерференционном микроскопе Интерфако АЕ, представляющем собой измерительный прибор высокого класса для визуального наблюдения и фотоэлектрического измерения малых разностей хода с помощью интерферометрических методов. В отличие от МИИ-4 в Интерфако АЕ лучи расщепляются за объективом. При первом варианте измерений (метод «ширинг») производится боковое расщепление изображения измеряемого объекта, например ступеньки рельефа. При втором варианте измерений (метод «интерфако» волна света от объекта интерферирует с опорной плоской волной (бесструктурное изображение, не содержащее деталей объекта). Этот метод применяется при исследовании рельефа, содержащего детали малых размеров (ямки травления). При этом рельеф преобразуется в цветное изображение отличного качества, сравнимого с изображениями, получаемыми на первоклассных фазово-контрастных микроскопах.

По сравнению с МИИ-4 разрешающая способность Интерфако А—Е выше по крайней мере на порядок: с погрешностью не выше 20% можно измерять высоту ступеньки 3 нм. Дополнительным преимуществом Интерфако АЕ по сравнению с микроскопами МИИ-4 является то, что первый построен по прямой схеме, а второй по так называемой обращенной схеме, при которой образец кладется на столик в перевернутом виде (как и в металлографических микроскопах МИМ-7, МИМ-8).



В настоящее время разработаны и выпускаются промышленностью специализированные микроскопы, созданные на базе МИИ-4, но по прямой схеме с расширенным спектральным диапазоном, позволяющим исследовать рельеф объектов, непрозрачных в видимом свете, но прозрачных в ИК области спектра, например рельеф КСДИ (кремниевых структур с диэлектрической изоляцией). Одним из таких микроскопов является телевизионный микроскоп Монослой-2. Сущность метода измерений, заложенного в основу этого микроскопа, заключается в следующем. Интерференционная головка настраивается сначала на поверхность измеряемой структуры (наблюдают интерференционные полосы от поверхности, совмещая центр группы полос с нулевой отсчетной линией). Затем настраиваются на рельеф границы раздела кремний—диэлектрик, закрытый от прямого наблюдения слоем монокристаллического кремния, и опять совмещают центр группы интерференционных полос с нулевой линией отсчета. Толщину слоя монокристаллического кремния определяют по формуле , где h — перемещение интерференционной головки между двумя отсчетами ее положения (при настройке на границу раздела и на поверхность), а — эффективный коэффициент преломления кремния для выбранного диапазона ИК спектра. Контроль интерференционной картины, по Линнику, производится в ИК области спектра с помощью преобразователя, состоящего из ИК видикона, передающей телевизионной камеры и видео контрольного устройства. Она позволяет измерять толщину монокристаллического кремния в «карманах» КСДИ в диапазоне 7...30 мкм с погрешностью 0,7 мкм, а также и другие параметры рельефа КСДИ (глубину разделительных канавок и высоту ступенек мезаструктур в диапазоне 10...90 мкм с погрешностью ± 5 мкм). Производительность установки 200 измерений в 1 ч, благодаря чему обеспечивается контроль в условиях серийного производства. Полуавтоматический режим контроля с коррекцией нуля и цифровым отсчетом толщины или высоты рельефа с помощью индуктивных датчиков снижает субъективные ошибки оператора.



 


Дата добавления: 2015-07-26; просмотров: 8; Нарушение авторских прав







lektsii.com - Лекции.Ком - 2014-2021 год. (0.008 сек.) Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав
Главная страница Случайная страница Контакты