Краткие теоретические сведения. При контроле по качественному признаку о разладке технологического процесса судят либо по числу единиц продукции

При контроле по качественному признаку о разладке технологического процесса судят либо по числу единиц продукции, либо по числу дефектов. Увеличение любого из этих значений сверх допустимых норм свидетельствует о разладке процесса.

Статистическое регулированиепри контроле по качественному признаку осуществляется в соответствии с планом контроля. Планом контроля определяются параметры: объем выборки n браковочное число d, период отбора выборок τ.

Существуют следующие виды контрольных карт по качественному признаку:

1) числа дефектных изделий ( - карта);

2) доли дефектных изделий (p – карта);

3) числа дефектов (с - карта);

4) числа дефектов на единицу продукции (u – карта).

Карта доли дефектных изделий p-карта. Контрольная карта р применяется для контроля и регулирования технологического процесса в тех случаях, когда измеряемой характеристикой процесса является доля дефектных изделий. Значение доли дефектных изделий выявляется после проверки некоторой части изделий, разделения их на хорошие и дефектные, и деления числа обнаруженных дефектных изделий на полное число проверенных изделий. Хотя сами измеряемые показатели качества обычно относятся к количественным признакам, после разграничения изделий на доброкачественные и дефектные эти две группы относятся к категории качественных признаков, и поэтому в таких случаях целесообразно использовать р-карту. Кроме применения контрольной карты р для доли дефектных изделий, ее можно применять для определения интенсивности выпуска продукции, процента неявки на работу и т.п.

Преимущество р-карты состоит в том, что одновременно можно контролировать несколько параметров, причем число проверяемых изделий n может меняться.

Особенно удобна р-карта при приемочном контроле сложных изделий, когда перед отправкой потребителю проверяется вся продукция; контролируются её функциональные характеристики, товарный вид и тому подобное.

Построение p-карты проводится по следующему алгоритму:

1. Подберите такой объем выборки n, чтобы число дефектных изделий в выборках pn составляло от 1 до 5 дефектных изделий.

2. Вычислите долю дефектных изделий p по каждой выборке, как отношение числа дефектных изделий в выборке pn к объему выборки n:

.

3. На бланке контрольной карты на шкалу по вертикали нанесите деления для долей дефектных изделий (в процентах) р(%), а по горизонтали – номера выборок.

4. На контрольную карту нанесите точки, соответствующие значениям p.

5. Вычислите среднее по значениям р для каждой выборки:

,

где åpn – суммарное число дефектных изделий,

ån – суммарное число проверенных изделий.

6. Рассчитайте среднее квадратичное отклонение s_p:

,

7. Вычислите координаты границ регулирования р:

, .

Если объем выборки n неодинаков при каждом отборе, то долю дефектных изделий и границы для нее вычисляют для каждой выборки. Если значение LCL при расчете оказывается отрицательным, то в этом случае его приравнивают к нулю.

8. На контрольную карту нанесите границы регулирования. Значение обозначают сплошной линией, а границы UCL, LCL – пунктирной.

9. Если все наносимые точки находятся внутри границ регулирования, то следует считать, что технологический процесс протекает стабильно. Если же некоторые точки выходят за границы регулирования, то причины этого явления изучаются, после чего принимаются меры, предупреждающие их повторение. Эти точки исключаются из расчета границ регулирования, и координаты этих границ пересчитывают.

10. Рассматривая значение , найденное при помощи описанного выше алгоритма, исследуют, насколько оно отвечает требованиям с технической и экономической точек зрения. Если это значение будет признано удовлетворительным, то его используют как среднюю контрольную линию. Если же принимается решение, что доля дефектных изделий слишком велика, то первоочередной проблемой будет выработка воздействий, предусматривающих уменьшение доли дефектных изделий. После применения таких мер воздействия, процедуру повторяют, предварительно отобрав новые данные.

Карта числа дефектных изделий -карта. Контрольная карта применяется для контроля и регулирования технологического процесса в тех случаях, когда контролируемым параметром является число дефектных изделий при постоянном объеме выборки n. Эта контрольная карта соответствует контрольной карте р при постоянном n и, по существу, совпадает с ней.

Алгоритм построения контрольной карты следующий:

1. Произведите выборку 20 – 25 подгрупп равного объема с количеством дефектов от 1 до 5 в каждой подгруппе.

2. Подготовьте бланк контрольной карты.

3. На карту точками нанесите значения pn для каждой выборки;

4. Вычислите среднее значение pn по всем выборкам: ,

,

если нижнее значение границы регулирования оказывается отрицательным, то LCL приравнивается к нулю.

Карты числа дефектов и числа дефектов на единицу продукции c-карта, u-карта. Иногда бывает, что анализ и управление процессом ведутся по таким дефектам в продукции, как, например, число царапин на листе металла, число дефектов сварки в конструкции, число дефектов печатной платы и т.д. В этих случаях для числа дефектов в изделиях одинакового размера применяются карты типа c, а для изделий разного размера – карты типа u.

Алгоритм построения с-карты:

1. Возьмите 20-25 выборок постоянного объема и выявите число дефектов c (от 1 до 5) в каждой выборке.

2. На бланке контрольной карты на вертикальную шкалу нанесите деления для числа дефектов с, а на горизонтальную – номера выборок k (постоянного объема).

3. На контрольную карту точками нанесите значения, отражающие число дефектов с в каждой из выборок.

4. Вычислите среднее арифметическое по всем значениям с в выборках;

5. Вычислите координаты границ регулирования ,

6. Нанесите границы регулирования на контрольную карту.

Алгоритм построения u-карты:

1. Способ составления контрольной карты u почти идентичен способу составления контрольной карты с, но поскольку объем выборки непостоянен, сначала вычисляют число дефектов u, приходящееся на каждую единицу объема выборки для каждой отдельной выборки, а затем вычисляют координаты границ регулирования.

2. Взяв 20-25 выборок, выявляют число дефектов с в объеме каждой выборки.

3. Затем определяют долю дефектности:

4. На бланк контрольной карты наносят значения u.

5. Вычисляют среднее арифметическое u по всем значениям u в выборках:

,

где åc – общее число дефектов во всех выборках;

ån – суммарный объем выборок.

6. Вычисляют точные координаты границ регулирования ,

7. Если отношение не превышает значений от 1/2 до 2, то для точек близких к границам регулирования можно использовать следующие значения:

где .